共用設備一覧
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核磁気共鳴装置及び電子スピン共鳴装置
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| 設備名 | メーカー | 型式 |
|---|---|---|
| 600MHz NMR （NMR） | 日本電子 | JNM-ECA600 |
| 500MHz NMR （NMR） | 日本電子 | JNM-ECZ500R |
| 電子スピン共鳴装置 （ESR） | 日本電子 | JES-FA100N |
| 400MHz 固体・溶液NMR （NMR） | 日本電子 | JNM-ECX400P |
顕微鏡装置
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| 設備名 | メーカー | 型式 |
|---|---|---|
| 低真空分析走査電子顕微鏡 （SEM） | 日立ハイテク | SU6600 |
| 200kV透過電子顕微鏡 （200kV-TEM） | 日本電子 | JEM-2200FS |
| 微小デバイス特性評価装置 （nanoEBAC） | 日立ハイテク | NE4000 |
| 走査透過電子顕微鏡 （STEM） | 日立ハイテク | HD-2700 |
| 超高分解能電界放出型電子顕微鏡 （FE-SEM） | 日立ハイテク | SU9000 |
| 多機能分析走査電子顕微鏡 （SEM） | 日本電子 | JSM-IT800 |
| 表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置 （High speed AFM） | ブルカー | NanoWizard ULTRA Speed 2 |
| 原子分解能多機能透過電子顕微鏡 （NEOARM） | 日本電子 | JEM-ARM200F NEOARM |
X線解析装置
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| 設備名 | メーカー | 型式 |
|---|---|---|
| X線構造解析装置 （SmartLab） | リガク | SmartLab 9kW/IP/HY/N |
| 高性能単結晶X線自動解析装置 | リガク | XtaLAB Synergy-R/Cu |
表面分析装置
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| 設備名 | メーカー | 型式 |
|---|---|---|
| 多機能走査型X線光電子分光分析装置 （XPS） | アルバック・ファイ | PHI 5000 Versa Probe Ⅱ |
質量分析計
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| 設備名 | メーカー | 型式 |
|---|---|---|
| 二重収束型質量分析計 （Sector-MS） | 日本電子 | JMS-700 MStation |
| マトリックス支援レーザー脱離イオン化Spiral飛行時間型質量分析計 （MALDI-Spiral-TOFMS） | 日本電子 | JMS-S3000 |
| LC/TOFMS飛行時間型質量分析計 （ESI-TOFMS） | 日本電子 | JMS-T100LC AccuTOF |
| マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計 （MALDI-TOFMS） | ブルカー | Autoflex Ⅱ |
| DART質量分析計 （DART-MS） | 日本電子 | JMS-Q1000TD |
| LC/TOFMS高分解能飛行時間型質量分析計 （T100LP,Accutof4G） | 日本電子 | AccuTOF LC-plus 4G, DART/ESI/CSI/APCI |
光学測定装置
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| 設備名 | メーカー | 型式 |
|---|---|---|
| 光ダイナミクス分光装置 | 仕様を参照 | ー |
| 分光エリプソメーター | ホリバ・ジョバンイボン | UVISEL ER AGMS-NSD |
| ダイナミック光散乱光度計 | 大塚電子 | DLS-6000 |
| 顕微レーザーラマン分光光度計 | 日本分光 | NRS-4100-30 |
| 円二色性分散計 （CD） | 日本分光 | J-820 |
物性測定装置
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| 設備名 | メーカー | 型式 |
|---|---|---|
| 示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 （DSC / TG-DTA） | 日立ハイテクサイエンス | DSC 7000X/STA 7200 |
| 大気中光電子分光装置 （PYS） | 理研計器 | AC-3 |
| 分光感度・内部量子効率測定装置 | 分光計器 | CEP-2000RP |
膜厚測定装置
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| 設備名 | メーカー | 型式 |
|---|---|---|
| 微細形状測定装置 | 小坂製作所 | ET200 |