二重収束型質量分析計

二重収束型質量分析計 (Sector-MS)

設備情報更新日:2026/03/10

二重収束型質量分析計
CMP設備ID
CMP-016
メーカー
日本電子
型式
JMS-700 MStation
仕様
・電子イオン化(EI)
・化学イオン化(CI)
・高速原子衝撃(FAB)
・磁場/電場二重収束
担当者
西川 嘉子

二重収束型質量分析計 利用料金

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