表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置
表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置 （High speed AFM）
設備情報更新日：2026/03/23
- CMP設備ID
- CMP-075
- メーカー
- ブルカー
- 型式
- NanoWizard ULTRA Speed 2
- 仕様
-
・測定環境：大気中、液中
・最大撮影速度：10 frames/sec
・最大走査範囲：水平300µm×垂直300µm
・動作モード：コンタクトモード、ピークフォースタッピング（QIモード）、ACモード、フォースカーブマッピングモード
・温度制御範囲：室温～+300℃（高温加熱ステージ利用時）、-30～120℃（加熱冷却モジュール利用時） - 担当者
- 石原 綾子
淺野間 文夫
概要
AFM（原子間力顕微鏡）は、探針と試料表面の間に働く原子間力を検出し、ナノメートル精度で表面形状や物性を観察する装置です。カンチレバー先端の探針が表面を走査し、そのたわみをレーザーで読み取ることで凹凸を可視化します。導電性を必要とせず、大気・真空・液中など多様な環境で測定でき、材料科学や半導体、生体分野で広く利用されています。
表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置 利用料金
利用料金については、下記「表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置に関するお問い合わせ」よりお問い合わせください。